- Joy, David C. - -
Joy, David C. - Helium Ion Microscopy: Principles And Applications (springerbriefs In Materials)
Brand: Joy, David C. -
EAN:
9781461486596MPN: m01461486599
Kategorie: Bücher & Zeitschriften
Binding : Taschenbuch, Edition : 2013, Label : Springer, Publisher : Springer, medium : Taschenbuch, numberOfPages : 72, publicationDate : 2013-09-14, releaseDate : 2013-09-14, authors : Joy, David C., languages : english, ISBN : 1461486599
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